ꄠ
  • 끠
  • 首页
  • 关于我们
  • 公司产品
    • 表面轮廓及力学量测
    • 膜厚及电性量测
    • 颗粒检测
    • 成分分析
  • 应用中心
    • 光刻胶
    • 化合物半导体
    • 晶圆缺陷
    • 二维材料
    • 锂电材料
  • 技术文章
  • 新闻中心
  • 联系我们

选择我们的优势

艾时微拥有专业的技术人员,并且得到来自高校、研究所和半导体企业资深专家的技术支持,我们将用专业的态度满足您的需求。

专业

我们将为您提供专业的设备和技术支持。

提升

通过不断提升专业水平,更好地为您服务。

沟通

通过充分沟通,为您推荐最满足您需求的解决方案。

公司产品

国内专业的半导体及科研设备供应商之一。

  • 表面轮廓及力学量测
  • 膜厚及电性量测
  • 颗粒检测
  • 成分分析
    • 台阶仪D-600
      产品名称:台阶仪/探针式轮廓仪
      品牌:KLA
      型号:Alpha-Step D-600
      关键词标签:探针式轮廓仪、表面粗糙度、台阶仪
      简短描述:D-600可以对几纳米到1200µm的2D和3D台阶高度、粗糙度、应力进行测量。
      ¥ 0.00

      立即购买

    • 薄膜应力仪FSM 128NT
      产品名称:薄膜应力仪
      品牌:FSM
      型号:128NT/128L/500TC
      关键词:薄膜应力,Stress,Bow
      简短描述:FSM 128系列是采用激光对晶圆Bow Height进行扫描,从而监控薄膜应力的量测工具。
      ¥ 0.00

      立即购买

    • 光学轮廓仪Zeta-20
      产品名称:光学轮廓仪
      品牌:KLA
      型号:Zeta-20
      关键词标签:光学轮廓仪、共聚焦显微镜、粗糙度、白光干涉
      简短描述:Zeta-20是采用ZDot™技术和Multi-Mode光学系统的非接触式表面轮廓测试系统。
      ¥ 0.00

      立即购买

    • 白光干涉仪Profilm3D
      产品名称:白光干涉仪
      品牌:KLA-Filmetrics
      型号:Profilm3D
      关键词标签:白光干涉仪、光学轮廓仪、粗糙度
      简短描述:结合垂直扫描干涉 (VSI)和高精确度相移干涉 (PSI) 技术的经济型非接触式光学轮廓仪
      ¥ 0.00

      立即购买

    • 膜厚仪F54-XY
      产品名称:膜厚测量仪
      品牌:KLA-Filmetrics
      型号:F54-XY-200
      关键词标签:膜厚仪、椭偏仪、Filmetrics
      简短描述:采用光谱反射技术实现nm到mm级薄膜厚度测量的精密XY移动台自动光学膜厚测试系统。
      ¥ 0.00

      立即购买

    • 膜厚仪F50/54
      产品名称:膜厚测量仪
      品牌:KLA-Filmetrics
      型号:F50/F54
      关键词标签:膜厚仪、椭偏仪、Filmetrics
      简短描述:采用光谱反射技术实现nm到mm级薄膜厚度测量的自动光学膜厚测试系统。
      ¥ 0.00

      立即购买

    • 光谱椭偏仪RC2
      产品名称:光谱椭偏仪
      品牌:J.A. Woollam
      型号:RC2
      关键词标签:椭偏仪、椭圆偏振仪,折射率
      简短描述:采用双旋转补偿技术,可测量穆勒矩阵的全部16个单元,RC2是J.A.Woollam公司的最新的光谱椭偏仪产品。
      ¥ 0.00

      立即购买

    • 四探针测试仪R50/54
      产品名称:四探针方阻测试仪
      品牌:KLA-Filmetrics
      型号:R50/54
      关键词标签:方块电阻、四探针、电阻率
      简短描述:四探针方阻测试仪用来测试金属、半导体薄膜的方块电阻2D/3D mapping。
      ¥ 0.00

      立即购买

    • 光罩缺陷检查装置LODAS–BI8
      产品名称:光罩缺陷检查装置
      品牌:LAZIN
      型号:LODAS–BI8
      关键词标签:光罩缺陷检测、缺陷检测及Review
      简短描述:采用激光扫描技术扫描光罩和晶圆的表面缺陷检测与分类系统
      ¥ 0.00

      立即购买

    • 尘埃粒子计数器KC-31/24
      产品名称:气体颗粒计数仪
      品牌:日本RION
      型号:KC-31/24
      关键词标签:Particle Counter、颗粒计数、Rion
      简短描述:KC-31/24主要应用于无尘室环境中颗粒数量的监控,其中KC-31适用于千级无尘室,KC-24适用于百级无尘室。
      ¥ 0.00

      立即购买

    • 液体颗粒计数器KS-41A
      产品名称:液体颗粒度仪
      品牌:日本RION
      型号:KS-41A/B(光阻专用)
      关键词标签:液体颗粒、颗粒计数、LPC、Rion
      简短描述:KS-41A主要应用于测量光刻胶及溶剂中颗粒数量。
      ¥ 0.00

      立即购买

    • 颗粒及金属离子纯化装置
      实验室/中试线用电子化学品颗粒、及金属离子纯化过滤装置,可去除金属离子达到ppb甚至ppt级别。
      ¥ 0.00

      立即购买

    • 纳米红外成像与光谱采集系统Vista 75
      产品名称:纳米红外成像与光谱采集系统Vista 75
      品牌:Molecular Vista
      型号:Vista 75
      关键词标签:纳米红外、原子力红外联用、NanoIR
      简短描述: Molecular Vista的Vista 75可与多种光谱结合实现纳米分辨率成像,如IR、PL、Raman、s-SNOM等,是功能强大的科研利器。
      ¥ 0.00

      立即购买

    • 共聚焦拉曼XploRA™ PLUS
      产品名称:共聚焦拉曼光谱仪
      品牌:Horiba
      型号:XploRA™ PLUS
      关键词标签:共聚焦拉曼,显微拉曼、拉曼光谱
      简短描述:LabRAM HR Evolution工作范围从200纳米到2100纳米,具有高光谱分辨率、快速成像等优点。
      ¥ 0.00

      立即购买

    • NexION 5000 ICP-MS
      产品名称:电感耦合等离子体质谱仪
      品牌:美国PE
      型号NexION 5000G ICP-MS
      关键词标签:质谱,ICP MS,等离子体质谱仪
      简短描述:NexION 5G ICP-MS采用多重四级杆技术,具有出色的检测限,高精度和可重现性。
      ¥ 0.00

      立即购买

    • 离子色谱仪930
      产品名称:离子色谱仪
      品牌:瑞士万通
      型号:930
      关键词标签:离子色谱仪、离子色谱系统、阴离子浓度
      简短描述:瑞士万通930系列离子色谱为单通道离子色谱系统,用于阴阳离子和极性物质的常规痕量分析。
      ¥ 0.00

      立即购买

关于我们

上海艾时微技术开发有限公司是由中科院、复旦大学、厦门大学、华东理工大学等高校专家团队支持的,由多位半导体、科研领域背景的资深技术人员创立,公司秉承“专业、提升、沟通”的理念,聚焦于表面形貌及力学量测,膜厚及电性量测,缺陷及颗粒检测和成分分析四大领域,立志为科研及半导体领域贡献自己的力量。

查看更多

应用中心

聚焦于新材料、新技术、半导体、量子等领域。

光刻胶

包括粘度、水分、颗粒数量、金属离子、折射率测量等。

ꁕ 更多

化合物半导体

包括膜厚、尺寸、粗糙度、缺陷、电阻率、掺杂浓度等

ꁕ 更多

晶圆缺陷

包括颗粒、凸起、划痕、应力等包括从nm-um尺度缺陷。

ꁕ 更多

二维材料

包括表面形貌、厚度、光谱、场强等。

ꁕ 更多

咨询您的问题

您可以使用下面的表格提交您自己的问题

首页表单

留言内容

提交
{"height":"0","width":"0","background-color":"transparent","background-image":"none","background-position":"50% 50%","background-repeat":"no-repeat","background-gradient-top":"none","background-gradient-bottom":"none","background-scroll":"none","background-size":"auto","themeColorName":"","margin-top":"8","margin-left":"0","margin-right":"0","margin-bottom":"0"}
ꁲ
表单已成功提交,感谢您的参与!
ꁲ
ꁲ
抱歉,您已填写过该表单!
ꁲ
抱歉,您今天已填写过该表单!
ꁲ
抱歉!当前表单收集已结束!

我们的客户

我们始终为客户提供好的产品和技术支持、健全的售后服务

  • 销售经理:王先生
  • 手机:166 2105 0624
  • 邮箱:admin@ai-microtech.com
  • 网址:www.ai-microtech.com
  • 公司名称:
    上海艾时微技术开发有限公司

导航

  • 应用中心
  • 技术文章
  • 关于我们
  • 公司产品
  • 新闻中心
  • 联系我们

产品类别

也许你想看看

  • 表面轮廓及力学量测

  • 膜厚及电性量测

  • 颗粒检测

  • 成分分析

版权所有: 上海艾时微技术开发有限公司
 本网站由阿里云提供云计算及安全服务
本网站支持 IPv6
 本网站由阿里云提供云计算及安全服务
本网站支持 IPv6
 本网站由阿里云提供云计算及安全服务
本网站支持 IPv6
 本网站由阿里云提供云计算及安全服务
本网站支持 IPv6