ꄠ
  • 끠
  • 首页
  • 关于我们
  • 公司产品
    • 表面轮廓及力学量测
    • 膜厚及电性量测
    • 颗粒检测
    • 成分分析
  • 应用中心
    • 光刻胶
    • 化合物半导体
    • 晶圆缺陷
    • 二维材料
    • 锂电材料
  • 技术文章
  • 新闻中心
  • 联系我们
首页  ꄲ  公司产品

公司产品

  • 上海艾时微技术开发有限公司
  • 联系方式:166 2105 0624
  • 销售经理:王先生
  • 邮箱:admin@ai-microtech.com
  • 表面轮廓及力学量测

    • 台阶仪

    • 光学轮廓仪

    • 扫描电子显微镜

    • 纳米力学操纵

    • 薄膜应力仪

  • 膜厚及电性量测

    • Filmetrics膜厚仪

    • 光谱椭偏仪

    • XRF镀层测厚仪

    • 四探针测试仪

    • 汞探针CV测试仪

    • 非接触电阻率测试仪

  • 颗粒检测

    • 晶圆/光罩缺陷测试仪

    • 尘埃粒子计数器APC

    • 液体颗粒计数仪LPC

    • 激光粒度仪

    • 颗粒及金属离子纯化装置

  • 成分分析

    • 纳米红外成像与光谱采集系统

    • 显微共聚焦拉曼光谱仪

    • 电感耦合等离子体质谱仪

    • 离子色谱仪

  • P-7台阶仪

    产品名称:台阶仪/探针式轮廓仪
    品牌:KLA
    型号:Tencor P-7
    关键词标签:台阶仪、轮廓仪、表面粗糙度、应力
    简短描述: P-7可以对nm-µm级台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接

    넶12 ¥ 0.00
  • Zeta-300光学轮廓仪

    产品名称:光学轮廓仪
    品牌:KLA
    型号:Zeta-300
    关键词标签:光学轮廓仪、共聚焦显微镜、缺陷检测、白光干涉
    简短描述:Zeta-300是采用ZDot™专利技术和Multi-Mode光学系统的落地式非接触式表面轮廓测试系统。

    넶11 ¥ 0.00
  • Lumina AT1光学表面缺陷扫描仪

    Lumina AT1光学表面缺陷扫描仪

    넶6 ¥ 0.00
  • 散射式扫描近场光学显微镜Vista One

    产品名称:散射式扫描近场光学显微镜
    品牌:Molecular Vista
    型号:Vista One
    关键词标签:纳米红外、原子力红外联用、原子力拉曼联用、扫描近场光学显微镜
    简短描述: Molecular Vista的散射式扫描近场光学显微镜,同时使用光诱导力显微镜和散射式近场光学显微镜对于样品进行成像。。

    넶11 ¥ 0.00
  • 销售经理:王先生
  • 手机:166 2105 0624
  • 邮箱:admin@ai-microtech.com
  • 网址:www.ai-microtech.com
  • 公司名称:
    上海艾时微技术开发有限公司

导航

  • 应用中心
  • 技术文章
  • 关于我们
  • 公司产品
  • 新闻中心
  • 联系我们

产品类别

也许你想看看

  • 表面轮廓及力学量测

  • 膜厚及电性量测

  • 颗粒检测

  • 成分分析

版权所有: 上海艾时微技术开发有限公司
 本网站由阿里云提供云计算及安全服务
本网站支持 IPv6
 本网站由阿里云提供云计算及安全服务
本网站支持 IPv6
 本网站由阿里云提供云计算及安全服务
本网站支持 IPv6
 本网站由阿里云提供云计算及安全服务
本网站支持 IPv6