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产品名称：膜厚测量仪品牌：KLA-Filmetrics型号：F54-XY关键词标签：膜厚仪、薄膜厚度简短描述：采用光谱反射技术实现nm到mm级薄膜厚度测量的显微光学膜厚测试系统。
产品名称：膜厚测量仪品牌：KLA-Filmetrics型号：F54-XY-200关键词标签：膜厚仪、椭偏仪、Filmetrics简短描述：采用光谱反射技术实现nm到mm级薄膜厚度测量的精密XY移动台自动光学膜厚测试系统。
产品名称：膜厚测量仪品牌：KLA-Filmetrics型号：F20关键词标签：膜厚仪、薄膜厚度简短描述：采用光谱反射技术实现nm到mm级薄膜厚度测量的单点光学膜厚测试系统。
产品名称：膜厚测量仪品牌：KLA-Filmetrics型号：F50/F54关键词标签：膜厚仪、椭偏仪、Filmetrics简短描述：采用光谱反射技术实现nm到mm级薄膜厚度测量的自动光学膜厚测试系统。
